схема управления лазерным диодом

Снятие ватт амперных характеристик лазерного диода с выдачей протокола (из схемы исключается МОЭМ);

Измерение мощности излучения лазерного диода (из схемы исключается МОЭМ);

Изменение тока накачки лазерного диода (из схемы исключается МОЭМ);

Работа стенда в режиме измерения параметров оптоэлектронных элементов предусматривает следующие операции:

В состав технических средств входят: контроллер сбора и обработки данных (КСОД), блок управления лазерным диодом (БУЛД), блок управления матричным оптоэлектронным модулятором (БУМ), измерительный блок МС23.01, персональный компьютер, оптическая скамья, двухкоординатный столик и пересчётное устройство. Структурная схема стенда для исследования параметров лазерных диодов, модуляторов и фотоприемников представлена на рис.1.

Для обеспеченья наибольшей гибкости, при проектировании стенда используются современные электронные компоненты (ПЛИС, микроконтроллеры и т.п.), что позволяет переконфигурировать и перепрограммировать составные модули в зависимости от выбранного режима проведения эксперимента. Такая гибкость позволяет легко корректировать алгоритм проведения эксперимента без аппаратного вмешательства.

Процесс исследования параметров и тестирования осуществляется с помощью специализированных технических средств, персонального компьютера и разработанного пакета специализированных программ. Основной программой пакета является программа верхнего уровня «ВЕГА ТЕСТ», спроектированная на объектно-ориентированном языке С++. Она обладает интуитивно понятным человеко-машинным интерфейсом, с помощью которого экспериментатор имеет возможность легко изменять широкий набор параметров и режимов проводимых экспериментов, исполнять их, наблюдать результаты, производить первичный анализ, экспортировать полученные данные для последующего более детального математического анализа специализированными пакетами прикладных программ (например MathLab) и возможности создания отчётов.

На автоматизированном стенде исследуются параметры и  производится тестирование таких оптоэлектронных элементов, как: лазерные диоды, фотоприёмники, матричные оптоэлектронные модуляторы (МОЭМ), оптоэлектронные модули и т.п..

Разрабатываемый стенд представляет собой набор взаимосвязанных модулей, служащих для гибкой автоматизации процесса исследования и тестирования оптоэлектронных компонентов на частотах от 10 кГц до 250 МГц.

В связи с изложенным, очень актуальным является разработка автоматизированных стендов для исследования, испытания и тестирования оптоэлектронных компонентов.

Высокопроизводительные оптоэлектронные системы предназначены для применения в различных отраслях промышленности: авиастроении, металлургии, средствах связи, транспорта и т.д., для автоматизации контрольно-измерительных операций и технологических процессов с целью увеличения выхода годной продукции, повышения качества, а также для сертификации производства. Процессы разработки, создания и эксплуатации оптоэлектронных компонентов неразрывно связаны с их экспериментальными исследованиями и испытаниями

В настоящее время широко используются  оптоэлектронные контрольно - измерительные высоко точные системы для измерения в ходе технологических процессов геометрических размеров, профилей, координат, ориентации, углов, толщины, перемещений, диаметра, скорости, температуры и ее распределения и др.

Область применения полупроводниковых оптоэлектронных устройств (лазерных диодов, модуляторов, фотоприемников и т.п.) очень обширна. Они применяются в средствах индикации, измерений, в системах беспроводного дистанционного управления, линиях связи, для развязки различных электрических цепей и т.п.

В настоящее время во всем мире происходит бурное развитие оптико-электронного приборостроения. В свою очередь это оказывает существенное влияние на прогресс в других областях науки, техники и производства. Современные оптико-электронные приборы и устройства являются сложными техническими системами, включающими множество подсистем, имеющих самое разнообразное построение и основанных на различных принципах действия. Это, прежде всего, электроника, автоматические системы управления и обработки информации,  микропроцессорная техника и многое другое.

Рассматриваются вопросы разработки автоматизированного стенда для тестирования оптоэлектронных компонентов. Приведены подробное описание и принципиальная электрическая схема микропроцессорного контроллера, предназначенного для организации измерений.

Егоров А.А., Кирпичев К. Ю., Неретин Е.   МАИ, Паппэ Г.Е. Концерн радиостроения “Вега”

Интеллектуальная Энергетика

Газойл Плаза, этаж 22

Москва, ул. Наметкина, 12А,

ООО "АВИАТЭКС-Каскад" - интеллектуальная энергетика